Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (XPS) використовує м’яке рентгенівське випромінювання (з енергією фотонів 200-2000 еВ) для дослідження електронів на основних рівнях. Ультрафіолетова фотоелектронна спектроскопія (UPS) з використанням вакуумного УФ-випромінювання (з енергією фотонів 10-45 еВ) для дослідження валентних рівнів електронів. 15 січня 2023 р.
Деякі основні недоліки ізоляції XPS: Вплив на навколишнє середовище: отримано з нафти, обмежена можливість переробки. Потенціал глобального потепління: вищий порівняно з деякими іншими ізоляційними матеріалами. Обмежена можливість вторинної переробки: складно переробляти через структуру закритих комірок.
Хоча ДБЖ має високу енергетичну роздільну здатність (< 0,1 еВ), спектр є згорткою станів валентної (заповненої) зони та станів (порожньої) зони провідності, останні з яких зумовлені фотозбудженням валентних електронів у зону провідності.
ДБЖ по суті молекулярна спектроскопія, яка забезпечує спектр валентної смуги високої роздільної здатності, тоді як XPS використовується переважно для дослідження переходів ядерного рівня, а також для дослідження електронів валентної зони.
XPS може вимірювати елементний склад, а також хімічний та електронний стан атомів у матеріалі. Спектри XPS отримують шляхом опромінення твердої поверхні пучком рентгенівського випромінювання та вимірювання кінетичної енергії електронів, які випускаються з верхньої частини матеріалу 1-10 нм.
XPS використовується частіше, ніж UPS і її часто називають електронною спектроскопією для хімічного аналізу (ECSA). На відміну від UPS, його часто використовують для аналізу складу, щоб визначити, який елементний склад присутній на поверхні матеріалу (кількість і типи елементів).